Systek™ BAF Ni

下一代无硼酸镍阻挡技术,可为高性能封装带来卓越的共面性。

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产品概述

Systek™ BAF Ni是一种易于控制的镍阻挡层电镀工艺,可形成纯净、延展性佳、晶粒细小、应力低的镍沉积层,具有卓越的共面性,满足下一代半导体封装的要求。作为面板级封装(PLP)产品组合的一部分,其化学系统不含硼酸,符合相关法规要求。

Systek BAF Ni能够满足先进封装架构对性能和制造的严苛要求,是一种有效的阻挡金属,能够限制焊料转化为金属间化合物(IMC),避免界面处形成空洞;同时,凭借卓越的过孔填充能力,该产品可在较低的操作温度下形成光滑表面,从而降低拥有成本。

产品特性

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可持续性与监管合规性

不含硼酸,符合“高度关注物质”(SVHC)及《化学品注册、评估、授权和限制法规》(REACH)的规定,助力制造商实现其环境目标。

与高纯度半导体环境相兼容

满足晶圆电镀应用对性能及制造工艺的相关要求。

可调节的工艺控制,实现应力可预测的均匀镀层。

通过温度控制和BAF Ni-A浓度调节,可控制镀层应力。

凸块和铜柱电镀

Systek BAF Ni具有光滑的沉积表面和均匀的凸块形状,可与传统的镍电镀工艺相媲美。

面向高性能封装的一流无硼酸阻挡技术

Systek BAF Ni提供有效的扩散阻挡层,可限制焊料转化为金属间化合物,该阻挡层可有效防止界面空洞形成,从而提高先进封装的可靠性。

Panel Level Packaging_Systek BAF Ni_IMC Thickness

阻挡电镀

Systek BAF Ni可在复杂结构表面上提供一致的阻挡镀层,通过严格的工艺控制,能够满足高性能半导体应用的需求。

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