扇出型晶圆级封装(FOWLP)
焊料表面

借助我们针对金属薄膜的先进金和钯解决方案,实现下一代扇出型晶圆级封装。

提升扇出型晶圆级封装可靠性 

我们的金和钯预镀工艺可增强后续电镀层的粘合力。作为独立层,它们能够经济地使用金或钯等贵金属来形成可焊表面。 

薄层的金或钯形成低孔隙薄膜,保护底层金属不与氧气接触,避免形成不利于焊接的氧化物。这些特性使得高密度芯片设计能够实现可靠的焊接操作。

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集成解决方案
我们提供全面的预镀、闪镀和电镀解决方案,确保为化合物半导体应用带来良好效果。

可持续性
无氰镀金解决方案,在保持化合物半导体应用性能的同时,支持环境、健康与安全(EH&S)目标。

可靠性
通过我们的化合物半导体解决方案组合,可获得良好的耐腐蚀性、高热稳定性并提高粘合力。

Wafer Level Packaging

常见问题

什么是扇出型晶圆级封装(FOWLP)?

扇出型晶圆级封装(FOWLP)是一种先进的封装技术,它扩展了晶圆级封装,可实现高密度输入/输出(I/O)以及更小、更紧凑的封装。 

金和钯预镀解决方案如何助力扇出型晶圆级封装?

我们的薄金和薄钯解决方案可增强后续电镀膜的粘合力,并且作为独立表面处理层,可防止底层金属(如镍)氧化污染。这些特性可在焊接过程中实现更高的工艺稳定性。

为什么在扇出型晶圆级封装中控制污染很重要?

在大量半导体应用中,使用金或钯等贵金属传统上被认为成本过高。我们的预镀解决方案能够在低金属浓度下运行,并且仅需很薄的厚度即可提供所需的防氧化保护,使得扇出型晶圆级封装设计中能够经济高效地利用金和钯。

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